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SEF580A-G18D

“表面粗さ”と“輪郭形狀”の2つの測定が可能です。タッチパネル採用で「測定條件の切り替え」等の操作性に優れ、多種多様なワークの測定に素早く対応できます。

• 表面粗さ測定
  • 1回の測定で規格が異なるパラメータの解析ができ、新しい規格への移行がスムースに行えます。
• 輪郭形狀測定
  • X軸の*大測定サンプリング數が64,000點と多く、高分解能で長距離の測定が可能です。

表面粗さ

輪郭形狀

設備特點：
KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。ET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。



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